Toda memoria flash NAND contenida en dispositivos de almacenamiento flash experimenta degradación en su capacidad para almacenar confiablemente bits de datos, con cada ciclo de programación o borrado (P/B) de una celda de memoria flash NAND, hasta el punto en que la memoria flash NAND ya no puede almacenar datos confiablemente; en ese momento debe retirarse de la concentración de almacenamiento direccionable por parte del usuario, y la dirección lógica es desplazada a una nueva dirección física sobre la matriz de almacenamiento de memoria flash NAND.
La BER también aumenta linealmente a medida que la celda es constantemente programada o borrada, y es por esta razón que se debe implementar un complejo conjunto de técnicas de gestión en el FSP de la SSD Enterprise, a fin de gestionar la capacidad de la celda para almacenar datos confiablemente a lo largo de la vida útil de la SSD. [6]
La resistencia de P/B de una memoria flash NAND dada puede variar sustancialmente dependiendo del proceso actual de fabricación de la litografía y el tipo de memoria flash NAND producida.
| Tipo de memoria flash NAND |
TLC |
MLC |
e-MLC |
SLC |
| Arquitectura |
3 bits por celda |
2 bits por celda |
2 bits por celda |
1 bit por celda |
| Capacidad |
La capacidad más alta |
Alta capacidad |
Alta capacidad |
La capacidad más baja |
| Resistencia (P/B) |
La resistencia más baja |
Resistencia mediana |
Alta resistencia |
La resistencia más alta |
| Costo |
$ |
$$ |
$$$ |
$$$$ |
| Tasa de errores de bit (BER) de NAND, aprox. |
10^4 |
10^7 |
10^8 |
10^9 |
Table 2 – NAND flash memory types [6] [7] [8] [9]
La memoria flash NAND Multi-Level Cell (e-MLC) de clase empresarial utilizada en la SSD clase Enterprise E100 de Kingston es similar en su funcionamiento a la memoria flash NAND MLC de grado comercial, pero ofrece requisitos adicionales de detección y de calificación para lograr una mayor resistencia de P/B y una BER más baja que la MLC estándar utilizada en las SSDs de clase de cliente.
Ya que una SSD clase Enterprise debe ser capaz de soportar la pesada actividad de escritura, dentro de escenarios típicos con un servidor de centro de datos que requiera acceso a los datos durante la totalidad de las 24 horas de cada día de la semana, frente a una SSD de clase de cliente que normalmente sólo se utiliza durante 8 horas al día en la semana, la e-MLC es la combinación perfecta para SSDs con rendimiento, capacidad y resistencia elevados.
Puede resultar complejo el entender la resistencia en caso de escritura de cualquier aplicación o SSD; es por eso que el Comité JEDEC también propuso una métrica de medición de resistencia utilizando el valor de Terabytes escritos (TBW), con el fin de indicar la cantidad de datos en bruto que se pueden escribir en la SSD antes que la memoria flash NAND contenida en la SSD se convierta en un medio de almacenamiento no confiable y la unidad deba ser retirada.
Al usar los métodos de prueba de JESD218A y las cargas de trabajo de clase empresarial de JESD219 propuestos por JEDEC se facilita el interpretar un cálculo de resistencia de fabricantes de SSD a través de los TBW y el extrapolar una medida de resistencia, más comprensible, que pueda aplicarse a cualquier centro de datos.
Como se ha señalado en los documentos JESD218 y JESD219, diferentes cargas de trabajo de acuerdo a la clase de aplicación pueden sufrir también de un factor de amplificación de escritura (WAF) en un orden de magnitud mayor que las operaciones de escritura enviadas por el huésped, y llevar fácilmente a un inmanejable desgaste de la memoria flash NAND, a una BER mayor en la memoria flash NAND proveniente de excesivas operaciones de escritura a medida que pasa el tiempo, y a un rendimiento más lento proveniente de páginas no válidas que están ampliamente distribuidas en la unidad SSD. El mecanismo inmediato de compresión utilizado en la E100 de Kingston con tecnología LSI® SandForce® DuraWrite™ reduce el WAF general y amplía la resistencia nominal de la memoria flash NAND para aplicaciones en la clase Enterprise.
Mientras que el TBW es un tema importante de discusión entre SSDs clase Enterprise y clase cliente, el TBW es sólo un modelo de predicción de resistencia a nivel de la memoria flash NAND, y el tiempo medio entre fallas (MTBF) debe ser mirado como un modelo de predicción de resistencia y confiabilidad a nivel de componente, basado en la confiabilidad de los componentes utilizados en el dispositivo.
La expectativa para los componentes de una SSD clase Enterprise incluye el durar más tiempo y trabajar más duro en la gestión de los voltajes de toda la memoria flash NAND, a lo largo de la expectativa de vida con la que cuenta la unidad SSD.
El monitoreo y generación de informes S.M.A.R.T. sobre las SSDs clase Enterprise permite que el dispositivo sea fácilmente consultado antes que se produzca la falla, en cuanto a la esperanza de vida basada en el factor de amplificación de escritura actual y el nivel de desgaste. A menudo también son compatibles las advertencias predictivas sobre falla inminente para eventos de fallas tales como la pérdida de energía, los errores de bits provenientes de la interfaz física o la distribución dispareja del desgaste.
Las SSDs clase de Cliente sólo pueden ofrecer la salida mínima de S.M.A.R.T. con el fin de monitorear la SSD durante el uso estándar o en forma posterior a la falla.
Dependiendo de la clase de aplicación y la capacidad de la SSD, también puede asignarse una mayor capacidad de reserva de memoria flash NAND como capacidad excedente de aprovisionamiento en exceso (OP). La capacidad de OP está oculta al acceso por parte del usuario y del sistema operativo, y puede ser utilizada como un búfer temporal de escritura para lograr un mayor rendimiento sostenido y como un reemplazo de las celdas de memoria flash defectuosas durante la expectativa de vida de la unidad SSD, con el fin de mejorar la confiabilidad y la resistencia de la SSD.