หน่วยความจำแฟลช NAND ทั้งหมดในสื่อบันทึข้อมูลระบบแฟลชจะมีเสถียรภาพในการเก็บบิตข้อมูลลดลงทุกครั้งที่เขียนโปรแกรมหรือลบข้อมูล (P/E) ลงบนเซลล์หน่วยความจำแฟลช NAND จนในที่สุดแฟลช NAND ก็จะไม่สามารถจัดเก็บข้อมูลได้อย่างมีเสถียรภาพอีกต่อไปและจะต้องนำออกจากการใช้เป็นส่วนจัดเก็บข้อมูลที่อ้างอิงได้ของผู้ใช้ การอ้างอิงที่อยู่ตรรกะของไดรฟ์จะถูกย้ายไปยังที่อยู่ทางกายภาพใหม่บนอาร์เรย์จัดเก็บข้อมูลแฟลช NAND
ขณะที่เซลล์ถูกเขียนโปรแกรมหรือลบข้อมูลอย่างต่อเนื่อง BER ก็จะเพิ่มขึ้นตามไปด้วย ด้วยเหตุนี้จึงต้องมีเทคนิคในการจัดการที่ซับซ้อนสำหรับ SSD FSP ระดับองค์กรในการเค้นประสิทธิภาพของเซลล์บันทึกข้อมูลของ SSD ให้มีเสถียรภาพและอายุการใช้งานตามที่กำหนด [6]
ค่าความทนทาน P/E ของหน่วยความจำแฟลช NAND จะแตกต่างกันไปขึ้นอยู่กับกระบวนการผลิตในปัจจุบันและประเภทของแฟลช NAND ที่ใช้
| ประเภทหน่วยความจำแฟลช NAND |
TLC |
MLC |
e-MLC |
SLC |
| สถาปัตยกรรม |
3 บิตต่อเซลล์ |
2 บิตต่อเซลล์ |
2 บิตต่อเซลล์ |
1 บิตต่อเซลล์ |
| ความจุ |
ความจุสูงสุด |
ความจุสูง |
ความจุสูง |
ความจุต่ำสุด |
| ความทนทาน (P/E) |
ทนทานต่ำสุด |
ทนทานปานกลาง |
ทนทานสูง |
ทนทานสูงสุด |
| ต้นทุน |
$ |
$$ |
$$$ |
$$$$ |
| Approx NAND Bit Error Rate (BER) อัตราข้อผิดพลาดบิดข้อมูล NAND (BER) โดยประมาณ |
10^4 |
10^7 |
10^8 |
10^9 |
อัตราข้อผิดพลาดบิดข้อมูล NAND (BER) โดยประมาณ ตาราง 2 - ประเภทหน่วยความจำแฟลช NAND [6] [7] [8] [9]
หน่วยความจำแฟลช NAND Multi-Level Cell (e-MLC) ระดับองค์กรที่ใช้กับ Kingston E100 SSD ทำงานคล้ายกับหน่วยความจำแฟลช MLC NAND ทั่วไป แต่ยังมีระบบคัดกรองและตรวจสอบคุณสมบัติ ทำให้มีค่าความทนทาน P/E สูงกว่าและ BER ต่ำกว่า MLC มาตรฐานที่ใช้ใน SSD สำหรับไคลเอนท์
เนื่องจาก SSD ระดับองค์กรจะต้องสามารถทนต่อการเขียนเป็นจำนวนมากได้ซึ่งถือเป็นเรื่องปกติในเซิร์ฟเวอร์ศูนย์ข้อมูลที่มีการเรียกค้นข้อมูลตลอด 24 ชั่วโมงทุกวันในขณะที่ SSD ไคลเอนท์อาจทำงานเพียง 8 ชั่วโมงต่อวัน e-MLC จึงเป็นทางเลือกที่สมบูรณ์แบบที่สุดในการเพิ่มประสิทธิภาพ ความจุและความทนทานให้กับ SSD
การศึกษาเกี่ยวกับความทนทานในการเขียนข้อมูลของแอพพลิเคชั่นหรือ SSD อาจมีองค์ประกอบมากมาย ด้วยเหตุนี้คณะกรรมการ JEDEC จึงได้จัดทำข้อเสนอและเกณฑ์ตรวจวัดความทนทานขึ้นโดยใช้ค่า TeraBytes Written (TBW) เพื่อชี้วัดปริมาณข้อมูลดิบที่สามารถเขียนไปยัง SSD ก่อนที่แฟลช NAND ใน SSD จะไม่สามารถจัดเก็บข้อมูลได้อย่างมีเสถียรภาพและต้องเปลี่ยนไดรฟ์ใหม่
การใช้วิธีการทดสอบ JESD218A และ JESD219 สำหรับองค์กรที่เสนอโดย JEDEC ทำให้สะดวกยิ่งขึ้นในการคำนวณค่าความทนทานของ SSD จากผู้ผลิตต่าง ๆ โดยอาศัย TWB และยังทำให้เกิดมาตรการที่ชัดเจนด้านความทนทานที่มากขึ้นซึ่งศูนย์ข้อมูลทุกแห่งสามารถนำมาปรับใช้ได้
ในเอกสาร JESD218 และ JESD219 มีระบุไว้ว่าภาระในการทำงานของแอพพลิเคชั่นแต่ละกลุ่มอาจได้รับผลกระทบได้อย่างมากจากตัวแปรยกกำลังในการเขียนข้อมูล (WAF) ซึ่งสามารถสร้างภาระได้มากกว่าการข้อมูลการเขียนจริงที่ได้รับจากโฮสต์ และทำให้เกิดการสึกหรอของแฟลช NAND โดยไม่สามารถควบคุมได้ BER แฟลช NAND สูงขึ้นเนื่องจากการสึกหรอจากการเขียนข้อมูลที่เพิ่มขึ้นไปตามเวลา ประสิทธิภาพในการทำงานที่ช้าลงเนื่องจากความกระจัดกระจายของเพจข้อมูลที่ไม่ถูกต้องใน SSD
กลไกการบีบอัดข้อมูลที่ใช้ใน Kingston E100 ร่วมกับเทคโนโลยี LSI® SandForce® DuraWrite™ ช่วยลด WAF โดยรวม และเพิ่มความทนทานให้กับแฟลช NAND ซึ่งเหมาะกับแอพพลิเคชั่นในระดับองค์กร
ในขณะที่ TWB ถือเป็นตัวแปรสำคัญที่ได้รับการกล่าวถึงใน SSD ระดับองค์กรและไคลเอนท์ แต่ TBW เป็นตัวแบบคาดการณ์ความทนทานของแฟลช NAND เพียงตัวเดียว โดยควรมีการพิจารณาค่า Mean Time Between Failure (MTBF) ร่วมด้วยเพื่อให้สามารถประเมินความทนทานและเสถียรภาพในการทำงานสอดคล้องกับส่วนประกอบที่ถูกใช้ผลิต สิ่งที่ผู้ใช้คาดหวังจากส่วนประกอบของ SSD ระดับองค์กร ได้แก่ความทนทาน การรองรับงานได้สมบุกสมบันมากกว่า และการจัดการแรงดันไฟฟ้าได้ครอบคลุมหน่วยความจำแฟลช NAND ทั้งหมดตลอดอายุการใช้งานของ SSD
ระบบตรวจสอบและแจ้งข้อมูล S.M.A.R.T. ใน SSD ระดับองค์กร ช่วยให้สามารถประเมินประสิทธิภาพของส่วนประกอบได้ก่อนจะเกิดปัญหา การคาดการณ์อายุการใช้งานจึงสอดคล้องกับตัวแปรยกกำลังในการเขียนข้อมูลและระดับการสึกหรอจากการใช้งานจริง
ระบบแจ้งเตือนก่อนเกิดปัญหารองรับการตรวจสอบที่หลากหลาย เช่น กรณีไฟดับ ข้อผิดพลาดบิตข้อมูลจากอินเทอร์เฟซทางกายภาพ หรือการสึกหรอที่ไม่สม่ำเสมอกัน
SSD ไคลเอนท์รองรับระบบ S.M.A.R.T. ในระดับพื้นฐานเพื่อตรวจสอบ SSD ระหว่างการใช้งานตามปกติหรือเมื่อเกิดข้อผิดพลาดแล้วเท่านั้น
พื้นที่สำรองที่เพิ่มมากขึ้นของหน่วยความจำแฟลช NAND ยังสามารถจัดสรรไว้เป็นพื้นที่จัดเก็บข้อมูลสำรองส่วนเกิน (OP) ได้เช่นกัน ทั้งนี้ขึ้นอยู่กับกลุ่มแอพพลิเคชั่นและความจุของ SSD พื้นที่ OP จะถูกซ่อนไว้จากใช้งานโดยผู้ใช้และระบบปฏิบัติการ และสามารถนำมาใช้เป็นบัฟเฟอร์เขียนข้อมูลชั่วคราว ทำให้ประสิทธิภาพในการทำงานสม่ำเสมอมากกว่า และยังสามารถใช้แทนเซลล์หน่วยความจำแฟลชที่มีปัญหาในช่วงอายุการใช้งานของ SSD ทำให้ SSD มีเสถียรภาพในการทำงานและความทนทานที่สูงกว่า