Dyski SSD Кlasy Кorporacyjnej - Blog / Centrum wiedzy
-
Znajdź idealny dysk SSD do swojego centrum danych
Pytania, które należy zadać, szukając odpowiedniego dysku SSD do centrum danych swojej firmy.
-
Ile zapisów dysku dziennie (DWPD) faktycznie potrzebujesz?
Omawiamy kilka kluczowych kwestii, które pomagają lepiej zrównoważyć cenę, wydajność i trwałość.
-
SDS a sprzętowe i programowe rozwiązania RAID: jak rysuje się przyszłość?
W tym opracowaniu omawiamy zalety technologii SDS w porównaniu z rozwiązaniami HW i SW RAID.
-
Ocena produktów pamięci masowej pod kątem potrzeb przedsiębiorstwa
Wybór pamięci dla przedsiębiorstwa to złożony proces. Kingston oferuje swoją specjalistyczną wiedzę.
-
Twórz odporne, responsywne bazy danych dzięki dyskom SSD NVMe DC1500M Enterprise firmy Kingston
Kingston sprawdza, w jaki sposób dysk SSD NVMe DC1500M Enterprise wypada na tle konkurencji.
-
12 przydatnych wskazówek dla MŚP jak zwiększyć cyberbezpieczeństwo
Przedstawiamy 12 przydatnych wskazówek dla MŚP, pomocnych w zwiększeniu cyberbezpieczeństwa.
-
Trwałe zaangażowanie dla zapewnienia cyberbezpieczeństwa
Bill Mew wyjaśnia, dlaczego wyzwania związane z bezpieczeństwem wymagają zaangażowania zarządu.
-
Czy powinniśmy przejść na NVMe?
Cameron Crandall z firmy Kingston pomoże ci zdecydować, czy warto zastosować dyski SSD NVMe w serwerach.
-
Możliwości technologii NVMe: wydobądź więcej ze swoich procesorów
Mechanizm NVMe over Fabrics pomaga procesorom działać wydajniej – z mniejszymi opóźnieniami i większą przepustowością.
-
NVMe: nadmiarowość i RAID
Przejście na standard NVMe wymaga pełnego przeglądu systemu przez specjalistów w dziedzinie architektury IT, aby zapewnić nadmiarowość na każdym poziomie systemu.
-
Przyszłość technologii NVMe
Oto siedem prognoz dotyczących czynników, które będą stymulować zastosowanie technologii NVMe w 2021 r.
-
Jak testować dysk SSD klasy korporacyjnej, część 2: Dowiedz się, jakie wskaźniki powinny obejmować testy, i wykorzystaj odpowiednie oprogramowanie
Testowanie dysku SSD powinno umożliwić ocenę jego rzeczywistej wytrzymałości oraz zmian parametrów opóźnień i IOPS w warunkach sekwencyjnego i losowego odczytu lub zapisu.
