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サーバーメモリテスト

Kingstonは、独自のメモリ製品に対して実施している一連のテストに加え、サーバーメモリのダイナミックバーンインテストも取り入れました。 これは問題のあるメモリが出荷される前により綿密に排除できるよう設計された独自のプロセスです。

故障事例の分析から、大多数の問題は使用し始めてから3カ月以内に発生することがわかっています。 これらは「初期不良 (Early Life Failure=ELF)」と言われます。 KingstonのエンジニアはKT2400バーンイン テスターを設計し、使用初期をシミュレートすることで、サーバーメモリの故障を大幅に軽減し、サーバーのダウンタイム発生率を低くします。

KingstonのKT2400テスター:
  • アドバンス・パターンテスト・コントローラー・プラットフォームの使用。

  • 高温および高電圧環境下で使用することで、最初の3カ月の激しい使用状況をシミュレート。

  • 500個のモジュールを同時にテスト可能。

  • 特許申請中の機能を搭載。

ダイナミックバーンインテストの使用で、Kingstonは初期不良を90%減少*。 結果はエンジニアの期待を上回るもので、弊社サーバーメモリの信頼性を高め、すでに業界一の水準にあった製造ラインをさらに向上させました。

Kingstonのテストに関する詳細。 PDF

* 2004年9月3日の試験結果に基づく

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