Этот сайт использует идентификационные файлы cookie для предоставления посетителям расширенных функциональных возможностей. Пользуясь данным сайтом, вы даете на это согласие. Мы ценим вашу конфиденциальность и безопасность данных. Ознакомьтесь с нашей Политикой работы с файлами cookie и Политикой соблюдения конфиденциальности, поскольку недавно обе политики были обновлены.
Тестирование памяти для серверов

В дополнение к полному набору тестов компании Kingston Technology, которые уже применяются к устройствам памяти, компания разработала систему динамического отбраковочного тестирования памяти для серверов. Эта уникальная процедура позволяет отбраковывать потенциально дефектные модули, не допуская их попадания в отгружаемые партии продукции.

При анализе отказов модулей было выявлено, что подавляющее их большинство происходит в течение первых трех месяцев работы. Это так называемые поломки на раннем этапе эксплуатации (ELF). Инженеры компании Kingston разработали отбраковочные испытания KT2400 для имитации раннего периода эксплуатации, благодаря чему удалось существенно сократить число отказов серверной памяти и уменьшить время потенциального простоя серверов.

Оборудование для тестирования Kingston KT2400:
  • Используются платформы с контроллерами, в которых реализованы усовершенствованные схемы тестирования.

  • Для моделирования трехмесячной эксплуатации в тяжелых условиях применяются повышенные значения температуры и напряжения.

  • Одновременно могут тестироваться до 500 модулей.

  • Применяется собственная разработка компании, на которую подана патентная заявка.

При использовании динамического отбраковочного тестирования компании Kingston удалось сократить число отказов модулей на 90%*. Результаты превзошли ожидания специалистов и повысили надежность нашей серверной памяти, которая и так занимает ведущие позиции в своем классе.

Узнайте больше о методах тестирования Kingston. PDF

* Based on trial, 3/09/04

        Back To Top